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IC卡扭彎測(cè)試儀 IC卡扭矩測(cè)試儀 IC卡彎曲測(cè)試儀 IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī) IC卡試驗(yàn)機(jī) IC卡彎曲性能測(cè)試機(jī) IC扭矩測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn);外形尺寸：L670 X W380 X H220
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IC卡扭彎測(cè)試儀 IC卡扭矩測(cè)試儀 IC卡彎曲測(cè)試儀 IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī) IC卡試驗(yàn)機(jī) IC卡彎曲性能測(cè)試機(jī) IC扭矩測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn);外形尺寸：L670 X W380 X H220
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IC卡扭彎測(cè)試儀 IC卡扭矩測(cè)試儀 IC卡彎曲測(cè)試儀 IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī) IC卡試驗(yàn)機(jī) IC卡彎曲性能測(cè)試機(jī) IC扭矩測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn);外形尺寸：L670 X W380 X H220
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IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。